Prova CENTRO DE TECNOLOGIA MINERAL — Assistente DE Pesquisa Perfil 2 2024 (Instituto Access)
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Instituto Access, CENTRO DE TECNOLOGIA MINERAL
questão 1 de 34, número 5 na prova
Sobre a preparação de amostras para análises por difração de raios X, analise as afirmativas a seguir:
- I. Para minimizar o efeito do deslocamento da amostra, cuidados devem ser tomados na preparação e na fixação (montagem) do material no porta amostras.
- II. Uma das falhas mais comuns é o uso de amostras que não foram pulverizadas adequadamente, muitos autores recomendam incorretamente o passante na peneira de malha 325 (44 µm).
- III. A moagem excessiva da amostra pode resultar no alargamento dos picos de difração.
- IV. A superfície da amostra no porta amostras deve ser plana, sem rugosidades ou curvaturas, e não deve estar inclinada em nenhuma direção.
Assinale
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